Aehr Test Systems ist ein Anbieter von Testsystemen zum Einbrennen und Testen von integrierten Logik-, Optik- und Speicherschaltungen und hat weltweit etwa 2.500 Systeme installiert. Zu den Produkten des Unternehmens gehören das ABTS-System, das für Produktions- und Qualifikationstests von gehäusten Bauteilen für Logikbausteine mit geringerem und höherem Stromverbrauch sowie für alle gängigen Arten von Speicherbausteinen verwendet wird; das FOX-XP-System, ein System für den vollständigen Waferkontakt und den Test von einzelnen Die/Modulen sowie für Burn-in-Tests, das für Burn-in und Funktionstests komplexer Bausteine, wie z. B. Spitzenspeicher, digitale Signalprozessoren usw., verwendet wird; Der WaferPak Contactor ist eine Wafer-Probekarte, mit der Wafer getestet werden können und die es Herstellern integrierter Schaltkreise (IC) ermöglicht, Tests und Burn-Ins an kompletten Wafern auf Aehr Test FOX-Systemen durchzuführen. Der DiePak Carrier ist eine kundenspezifisch entwickelte, wiederverwendbare Testplatte für das FOX-XP-System, die es IC-Herstellern ermöglicht, Tests/Burn-Ins an vereinzelten Chips und Modulen durchzuführen.